StatIC

Użyjemy teraz StatIC - statystyczny postprocessor dla SYPRUSa - aby zbadać wyniki bardziej szczegółowo.

• Uruchom program StatIC klikając dwukrotnie na jego ikonę.

  StatIC wyświetli swój pasek menu zawierający menu: File, Edit oraz Results.

• Wybierz polecenie Open Data File... (Otwórz plik danych) z menu File.

  Na ekranie pojawi się okno wyboru pliku. Jest ono bardzo podobne do okiena dialogowego wyboru pliku w SYPRUSie i funkcjonuje w ten sam sposób. Wybierz plik nCMOS0.7.st i kliknij przycisk Open. Wyświetli się okienko dialogowej, takie jak pokazano po prawej. Zaznacz pole Don't use (nie używaj) i kliknij OK. Później dowiesz się o tym okienku dialogowym. Po pewnym czasie (do kilku minut dla bardzo dużych plików wejściowych) okno tabeli danych wyjściowych (output table window) pojawi się na ekranie. Zawiera ono streszczenie wyników statystycznych.

  Główną zawartość tego okna stanowi tabela gdzie dla każdego parametru jest wyświetlona jego minimalna, maksymalna, średnia wartość oraz standardowe odchylenie. Kolumna zatytułowana "Yield" (zysk) jest pusta. Jest to normalne, gdyż nie powiedzieliśmy jeszcze programowi StatIC jakie są ograniczenia tolerancji parametrów. Zrobimy to później. Zauważmy że używana jest uprzednio opisana konwencja nazewnictwa. Ponieważ były zdefiniowane dwa elementy MOS z kanałem typu n w pliku procesu SYPRUSa, każdy parametr dla tranzystora z kanałem typu n występuje trzy razy: dla "ogólnego" (ang. generic) elementu (TOXGN, VTON, KPN) i dla dwóch elementów zdefiniowanych w pliku procesu SYPRUSa (TOXGN1, VTON1, KPN1 oraz TOXGN2, VTON2, KPN2). Dla elementów MOS z kanałem typu p mamy parametry "ogólne" i parametry dla jednego tranzystora zdefiniowanego w pliku procesu SYPRUSa. Zauważmy też, że ostatnim parametrem jest RADIUS. Możemy wydrukować zawartość tego okna, zachować ją w pliku tekstowym używając standardowych poleceń systemu Macintosh dostępnych w menu File. Możemy także skopiować zawartość tego okna do Schowka (ang. Clipboard) używając polecenia Copy z menu Edit. Pojawi się ona jako tekst, kiedy będzie wklejona do innych aplikacji.

• Wybierz polecenie Histograms... z menu Results.

  Pojawi się okienko dialogowe zawierające listę skrótowych nazw wszystkich parametrów. Wybierz niektóre z nich. Aby wybrać więcej niż jeden parametr, pamiętaj aby klawisz Shift nie był wciśnięty i klikaj na nazwach parametrów które chcesz zaznaczyć. Aby odznaczyć uprzednio zaznaczony parametr, naciśnij klawisz Shift na klawiaturze i kliknij na nazwie parametru. Kiedy już to zrobisz, kliknij przycisk OK. StatIC wyświetli histogram dla pierwszego wybranego parametru w oknie histogramu (ang. histogram window), tak jak pokazano poniżej. Aby zobaczyć histogramy innych wybranych parametrów, kliknij przycisk Next (następny).

  Możemy wydrukować okno histogramu, lub zachować je jako plik PICT używając standardowych poleceń systemu Macintosh dostępnych w menu File. Możemy także skopiować całą zawartość tego okna do Schowka (ang. Clipboard) używając polecenia Copy z menu Edit. Pojawi się ona jako obiekt graficzny, kiedy będzie wklejona do dokumentów w innych aplikacjach.

• Wybierz polecenie Scatterplots... (wykresy rozproszone) z menu Results.

  Pojawi się okienko dialogowe zawierające dwie listy skrótowych nazw wszystkich parametrów. Lewa lista pozwala wybrać nazwy parametrów dla osi X, prawa lista pozwala wybrać nazwy parametrów dla osi Y. Wybierz niektóre parametry z lewej listy i niektóre z prawej. Nie wybieraj zbyt dużo parametrów. StatIC wyświetli wykresy rozproszone dla każdej kombinacji parametrów z lewej i prawej listy. Na przykład jeżeli wybierzesz dwa parametry dla osi X i kolejne 3 parametry dla osi Y, uzyskasz 6 wykresów rozproszonych.

  Kiedy już to zrobisz, kliknij przycisk OK. Pierwszy wykres pojawi się w oknie wykresu rozproszonego (ang. scatterplot window), tak jak pokazano poniżej. Aby zobaczyć inne wykresy, kliknij przycisk Next (następny).

  Możemy wydrukować okno wykresu, lub zachować je jako plik PICT używając standardowych poleceń systemu Macintosh dostępnych w menu File. Możemy także skopiować całą zawartość tego okna do Schowka (ang. Clipboard) używając polecenia Copy z menu Edit. Pojawi się ona jako obiekt graficzny, kiedy będzie wklejona do dokumentów w innych aplikacjach.

• Zamknij wszystkie okna.

  Polecenie Open Data File... w menu File stanie się aktywne. Możesz znowu otworzyć plik danych.

• Otwórz jeszcze raz plik nCMOS0.7.st.

  Okienko dialogowe zapyta cię o zdefiniowanie ograniczeń tolerancji. Tym razem nie zaznaczaj pola Don't use. Zaznacz pole Set new (ustaw nowe) i kliknij OK. Zobaczysz okno dialogowe pokazujące skrótowe nazwy pierwszych dziesięciu parametrów z kratkami. Kiedy kratka jest zaznaczona, pojawią się dwa tekstowe pola edycyjne w kolumnach Min. value i Max. value (wartość minimalna i maxymalna). W tych polach możesz edytować ograniczenia tolerancji dla parametru, tj. minimalne i maksymalne akceptowane wartości. Ustaw ograniczenia dla VTON1 i KPN1, tak jak jest pokazane po prawej i kliknij przycisk OK. Zobaczysz to samo okienko dialogowe z nazwami kolejnych dziesięciu parametrów. Okno dialogowe będzie się pojawiać ponownie tyle razy ile będzie konieczne, dając nam możliwość ustawienia ograniczeń tolerancji dla każego parametru. Kiedy ostanie okienko dialogowe jest zwolnione, StatIC wyświetli małe okienko dialogowe pytające czy chcemy zachować ograniczenia tolerancji do pliku. Dobrze jest tak zrobić, jeżeli chcemy wiele razy powtórzyć analizy statystyczne z tymi samymi ograniczeniami tolerancji. Kliknij przycisk No. StatIC będzie kontynuować czytanie plików wejściowych i wyświetli okno tabeli danych wyjściowych.

  Teraz kolumna "Yield" (zysk) nie już pusta. Dla każdego parametru który ma zdefiniowane ograniczenia tolerancji została obliczona wartość zysku. Zyski raportowane w kolumnie "Yield" to zyski częściowe, tj. zyski wyliczone z szacowaniem wartości parametrów indywidualnych. Całkowity zysk jest również raportowany. Ten zysk jest procentem symulowanych układów z wszystkimi parametrami w ramach ich ograniczeń tolerancji. Ograniczenia są wymienione w dolnej części okna (może być potrzebne przewinięcie zawartości okna aby zobaczyć je wszystkie).

• Wybierz polecenie Histograms... z menu Results, wybierz VTON1 oraz KPN1, a następnie kliknij przycisk OK.

  Na histogramie możemy zobaczyć ograniczenia tolerancji. Wyświetlone są dolne i górne limity i raportowany jest zysk. Uwaga: Na kolorowych monitorach część histogramu wewnątrz ograniczeń tolerancji jest wyświetlona na zielono, a część poza nimi wyświetlana jest na czerwono. Kliknij przycisk Next aby zobaczyć histogram dla KPN1.

• Wybierz polecenie Scatterplots... z menu Results, wybierz VTON1 jako zmienną osi X oraz KPN1 jako zmienną osi Y, a następnie kliknij przycisk OK.

  Na wykresie możemy zobaczyć ograniczenia tolerancji dla obu parametrów. Widzimy nie tylko jak dużo tranzystorów jest "dobrych" (tj. ich parametry znajdują się wewnątrz prostokątu tolerancji) i jak wiele jest "złych", ale takze sprawdzić bardziej szczegółowo ich statystyczny rozkład na płaszczyźnie VTO - KP. To może być pomocne przy ulepszaniu procesu lub przy przewidywaniu, przynajmniej jakościowym, niektórych statystycznych właściwości obwodów wytwarzanych z tymi tranzystorami.